《数字电路与逻辑设计》课程实验指导(可编程逻辑实验)实验五 显示驱动电路设计

实验五显示驱动电路设计 1.实验目的 ● 了解八段数码管的工作原理 ● 设计 一个数码管驱动电路,显示0~F之间的数字,以备以后调用。 2.示 十进制译码器的设计 二一十进制译码器的真值表见表45-1。 表451 二一十进制斯泽码器的真值表 输入 A3 A2 A1 A0 Y1 Y2 Y3 Y4 Y5 Y6 Y7 Y9Y9 0 1 1 11 11 0 1 0 1 1 1 1 1 的 源程序: Library ieee Use ieee.std_logic_1164.all Entity ym2_10 is Port(a:in std_logic_vector(3 downto 0). v:out std logic vector(9 downto 0)) End: Architecture rtl of ym2_10 is Begin Process(a) Begin Case a is When"0000-=>y<="11111110
实验五 显示驱动电路设计 1.实验目的 ● 了解八段数码管的工作原理。 ● 设计一个数码管驱动电路,显示 0~F 之间的数字,以备以后调用。 2.示例 二—十进制译码器的设计 二—十进制译码器的真值表见表 4-5-1。 源程序: Library ieee; Use ieee.std_logic_1164.all; Entity ym2_10 is Port(a:in std_logic_vector(3 downto 0); y:out std_logic_vector(9 downto 0)); End; Architecture rtl of ym2_10 is Begin Process(a) Begin Case a is When”0000”=>y<=”1111111110”;

When"0001=>vyyyyy=o111111111 When others=>y<="1111111111" End case; End process. (1)八段数码管电路的设计 (a)八段数码管工作原理 八段数码管如图451所示,为共阴极数码管。当阳极输入端为“1”时,对应的数码管 段就发光。通过控制发光的段,可以形成不同的数字。H段是小数点,一般用来显示控制信 号,不与其他七段 同编码 .h 图4-5-1八段数码管位分布图 (b)数码管驱动电路真值表(见表45-2)
When”0001”=>yyyyyyyyyy<=”1111111111”; End case; End process; End; 3.实验内容 (1)八段数码管电路的设计 (a)八段数码管工作原理 八段数码管如图 4-5-1 所示,为共阴极数码管。当阳极输入端为“1”时,对应的数码管 段就发光。通过控制发光的段,可以形成不同的数字。H 段是小数点,一般用来显示控制信 号,不与其他七段一同编码。 (b)数码管驱动电路真值表(见表 4-5-2)

表4-5-2数码管驱动电路真值表 输入 输出 数字A3a2A1a0 YaYbYcYd YeYfYg字型 0 0000 01111111 0 0011 11101111 23 10 1 190 4 11111101 6 11 1. 10 1010 110 1 11 1 D 15 1111 (c)按照(a、(b)的内容要求编程并实现电路功能 (2)实验 第 一个内容二个2位二进制数相乘电路的结果用数码管显示 4。注意事项 (1)由于实验板上有六个相同的数码管,所以在使用时,要从中选出一个即可。 (2)在实验过程中,由于连线较多,注意正确性。 5预习要求 (1)认真领会4线-16线译码器74154的功能,进一步掌握采用集成电路设计组合电路 的方法。 (2)提前做好本电路的输入信号,便于在实验过程中对电路功能进行验证。 6.实验报告 ()总结字型编码的种类,既一个八段数码管可产生多少种字符,产生所有的字符需 要多少根译码信号线。 2)写出设计程序、程序分析报告、仿真波形图及其分析报告、硬件测试和实验过程 报告
(c)按照(a)、(b)的内容要求编程并实现电路功能。 (2)实验四第一个内容二个 2 位二进制数相乘电路的结果用数码管显示。 4.注意事项 (1)由于实验板上有六个相同的数码管,所以在使用时,要从中选出一个即可。 (2)在实验过程中,由于连线较多,注意正确性。 5.预习要求 (1)认真领会 4 线-16 线译码器 74154 的功能,进一步掌握采用集成电路设计组合电路 的方法。 (2)提前做好本电路的输入信号,便于在实验过程中对电路功能进行验证。 6.实验报告 (1)总结字型编码的种类,既一个八段数码管可产生多少种字符,产生所有的字符需 要多少根译码信号线。 (2)写出设计程序、程序分析报告、仿真波形图及其分析报告、硬件测试和实验过程 报告
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