《电子测量原理》课程电子教案（PPT教学课件）第11章 数字系统测试技术

第11章数字系统测证术 111数字系统测试的基本原理 112逻辑分析仪 11.4数据域测试的应用

第11章 数字系统测试技术 11.1 数字系统测试的基本原理 11.2 逻辑分析仪 11.4 数据域测试的应用

111数字系统测试的基本原理 111.1数字系统测试和数据域分析的基本概念 1数字系统测试和数据城测试的特点 2几个术语 3故障模型

11.1数字系统测试的基本原理 11.1.1 数字系统测试和数据域分析的基本概念  1 数字系统测试和数据域测试的特点 2 几个术语 3 故障模型

1数字系统测试和数据域测试的特点 ◆电子测试的重要领域-数据域测试 ◆数据域测试的概念 ◆数字系统测试中的困难 +响应和激励间不是线性关系 从外部有限测试点和结果推断内部过程或状态 微机化数字系统的软件导致异常输出 +系统内部事件一般不会立即在输出端表现 故障不易捕获和辨认

1 数字系统测试和数据域测试的特点 ◆电子测试的重要领域----数据域测试 ◆数据域测试的概念 ◆数字系统测试中的困难 响应和激励间不是线性关系 从外部有限测试点和结果推断内部过程或状态 微机化数字系统的软件导致异常输出 系统内部事件一般不会立即在输出端表现 故障不易捕获和辨认

2几个术语 ◆故障侦查/检测( Fault Detection)--判断被 测电路中是否存在故障 ◆故障定位--查明故障原因、性质和产生的位置 ◆以上合称故障诊断,简称诊断 ◆缺陷-构造特性的改变 ◆失效-导致电路错误动作的缺陷 ◆故障-缺陷引起的电路异常,缺陷的逻辑表现 缺陷和故障非一一对应,有时一个缺陷可等效 于多个故障

2 几个术语 ◆故障侦查/检测（Fault Detection）--- 判断被 测电路中是否存在故障 ◆故障定位---查明故障原因、性质和产生的位置 ◆以上合称故障诊断，简称诊断 ◆缺陷---构造特性的改变 ◆失效---导致电路错误动作的缺陷 ◆故障---缺陷引起的电路异常，缺陷的逻辑表现 缺陷和故障非一一对应，有时一个缺陷可等效 于多个故障

3故障模型 ◆故障的模型化与模型化故障 (1)固定型故障( Stuck Faults) 团定1故障( stuck-at-1),S-a-1 团定0故障( stuck-at0),S-a-0 (2)桥接故障( Bridge Faults) ◆桥接故障:两根或多根信号线间的短接

3 故障模型 ◆故障的模型化与模型化故障 （1）固定型故障（Stuck Faults ） 固定1故障(stuck-at-1)，s-a-1 固定0故障(stuck-at-0)，s-a-0 （2）桥接故障（Bridge Faults ） ◆桥接故障:两根或多根信号线间的短接 x1 x2 x3 x3 x2 x1 x1 x1 x2 x2 x3 x3

3故障模型 (2)桥接故障( Bridge Faults) F Y (3)延迟故障( De l ay Faults) ◆延迟故障:电路延迟超过允许值而引起的故障 ◆时延测试验证电路中任何通路的传输延迟不超 过系统时钟周期

3 故障模型 （2）桥接故障（Bridge Faults ） F x1 . . . xs xs+1 . . . xn Y p1 ps x1 xs . . . Y xn xs+1 . . . （3）延迟故障（Delay Faults ） ◆延迟故障:电路延迟超过允许值而引起的故障 ◆时延测试验证电路中任何通路的传输延迟不超 过系统时钟周期

3故障模型 (4)暂态故障( Temporary Faults) 类型:瞬态故障和问歇性故障 瞬态故障:电源干扰和α粒子辐射等原因造成 门歇性故障:元件参数变化、接插件不可靠等造成

3 故障模型 （4）暂态故障（Temporary Faults ） 类型：瞬态故障和间歇性故障 瞬态故障 ：电源干扰和α粒子辐射等原因造成 间歇性故障：元件参数变化、接插件不可靠等造成

11.1.2组合电路测试方法简介 1敏化通路法和D算法 2布尔差分法

11.1.2 组合电路测试方法简介  1 敏化通路法和D算法 2 布尔差分法

1敏化通路法和D算法 (1)敏化通路法 ◆通路(Path)和敏化通路( Sensitized path) A f b C e g 电路的敏化过程 Ba y 0→10→→10→→1 1→01→01→0 ◆故障a→f→g:故障传播或前向跟踪 ◆一致性检验或反相跟踪( Backward trace)

1 敏化通路法和D算法 ◆通路（Path）和敏化通路(Sensitized Path) （1）敏化通路法 A B x1 x2 x3 a b c d e f g y C a f y 0→1 0→1 0→1 1→0 1→0 1→0 ◆故障a→f→g:故障传播或前向跟踪 ◆一致性检验或反相跟踪(Backward Trace) 电路的敏化过程

1敏化通路法和D算法 ◆故障传播和通路敏化的条件 通路内一切与门和与非门的其余输入端均应赋于 1”值,而一切或门和或门的其余输入端应赋于“0 值。 a f-x: S-a-0 e g 有扇出电路的敏化过程

1 敏化通路法和D算法 ◆故障传播和通路敏化的条件 通路内一切与门和与非门的其余输入端均应赋于 “1”值，而一切或门和或非门的其余输入端应赋于“0” 值。 x1 x2 x3 a b c d e f g y x2 :s-a-0 x1 x2 x3 a b c d e f g y x2 :s-a-0 x1 x2 x3 a b c d e f g y x2 :s-a-0 有扇出电路的敏化过程