电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章 概述——研究意义（王忆文）

教材和参考资料 冬教材 -雷绍充，邵志标，梁峰，《超大规模集成电路测试》，电子工业出 版社2008.5 -在线教材网址： >https://www.keledge.com/wrap/details/book?id=193571 ?参考资料 -VLSI Test Principles and Architectures),L.T.Wang,C.W. Wu,and X.Wen,Morgan Kaufmann,2006. Digital Systems Testing and Testable Design>, M.Abramovici,M.A.Breuer,A.D.Friedman,Computer Science Press,1995 Testing of Digital Systems),Niraj,Sandeep Gupta, Cambridge University Press,2003 。软件 VCS,DFT Compiler,TetraMax 2020/9/4 集成电路可测性设计 2

2020/9/4 集成电路可测性设计 2 教材和参考资料  教材  雷绍充，邵志标，梁峰，《超大规模集成电路测试》，电子工业出 版社 2008.5  在线教材网址： https://www.keledge.com/wrap/details/book?id=193571  参考资料  《VLSI Test Principles and Architectures》, L.T. Wang, C.W. Wu, and X. Wen, Morgan Kaufmann, 2006.  《Digital Systems Testing and Testable Design》， M.Abramovici, M.A.Breuer, A.D.Friedman，Computer Science Press，1995  《Testing of Digital Systems》，Niraj，Sandeep Gupta， Cambridge University Press，2003  软件  VCS，DFT Compiler，TetraMax

司外大华花秀教材一黄 超大规模 数字系统测甘 集成电路测试 和可测性设 窗提克那忠标单峰。编酒 TE VLSI TES DESION FOR PRINCIPLES TESTABILITY ARCHITECTU AM LAUND-TERNO WANG CHENO-WEN WUX 鸟独酷 2020/9/4 集成电路可测性设计 3

2020/9/4 集成电路可测性设计 3

EDA/DFT技术相关网站 1C设计及制造（伴号体、微电子到 芯知乎微电子杂谈】 FPGA|ASIC|IC前端设计论坛 Analog/RFIC设计(44 后端设计(39) 主题：200，帖数：1496 FPGA 40 主题：6万，帖傲：147万 主题：2万，帖傲：29万 最后发表：昨天18：39 主题：5万，帖数：92万 最后发表：10分钟前 最后发表：1分钟前 最后发表：8分钟前 IC测试与可测性(3) 1C验证(12 MEMS(微机电系统)(1) S0C设计论坛（⑤） 主题：1310，帖数：2万 主题：7767，帖数：13万 主题：335，帖数：4769 主题：1842，帖擞：3万 最后发表：1小时前 最后发表：2小时前 最后发表：2小时前 最后发表：3小时崩 Analog Layout(版图)（⑦ 脚本语言(script)学习交流(6) 集成电路生产/封装/工艺3) ESD/EoS和atchup(花片级) 主题：6167，帖数：7万 主题：1512，帖傲：2万 主题：1766，数：2万 主题：484，帖傲：8888 最后发表：1小时前 最后发表：半小时前 最后发表：3小时前 最后发表：昨天07：02 开源CPU设计(Risc- 通信C设计及开源通信算法 封装设计(1) 半导体新材料 v,0 penMips等)(7) 主题：178，帖数：2689 主题：189，帖数：2044 主题：195，帖数：1670 主题：3612，帖数：8万 最后发表：4天前 最后发表：3小时前 最后发表：前天18：38 最后发表：半小时前 4

EDA/DFT技术相关网站 www.eetop.cn/bbs www.edaboard.com www.fpga.com.cn www.edaclub.com www.edachina.com 4

章节安排 1、概述(2学时) 2、电路测试基础(2学时) ÷3、验证、模拟和仿真(4学时) 4、自动测试生成(2学时) 5、专用可测性设计(2学时) ÷6、扫描设计（2-3学时) 。7、边界扫描法(2-3学时) 8、随机测试和伪随机测试（2学时) 主要以教科书为参考 名 9、内建自测试（2-3学时) 增加新的内容 10、电流测试(2学时) 强调实用性 11、存储器测试(2-3学时) 12、SoC测试(2学时) 13、处理器的测试(2) 2020/9/4 集成电路可测性设计 6

2020/9/4 集成电路可测性设计 6 章节安排  1、概述(2学时)  2、电路测试基础（2学时）  3、验证、模拟和仿真（4学时）  4、自动测试生成（2学时）  5、专用可测性设计（2学时）  6、扫描设计（2-3学时）  7、边界扫描法（2-3学时）  8、随机测试和伪随机测试（2学时）  9、内建自测试（2-3学时）  10、电流测试（2学时）  11、存储器测试（2-3学时）  12、SoC测试（2学时）  13、处理器的测试（2） 主要以教科书为参考 增加新的内容 强调实用性

第一章概述 包子件皮女学 1966 University of Electronic Science and Technology of China

第一章 概述

What 什么是DFT? Why 为什么DFT? How ① 怎么DFT? 2020/9/4 集成电路可测性设计 8

2020/9/4 集成电路可测性设计 8 什么是DFT？ 为什么DFT？ 怎么DFT？ What Why How

基本目的 可能感兴趣的职位： Senior DFT Engineer 面议 逐点半导体（上海）有限公司 硕士及以上|5年工作经验 上海 电子技术半导体/集成电路 资深DFT工程师 面议 中晟宏芯 本科及以上|3年工作经验 上海-浦东新区 电子技术半导体/集成电路 DFT Engineer 30-42万 顺卓微电子 学历不限|1年工作经验 上海-浦东新区 电子技术/半导体/集成电路 Design for Test Engineer(... 面议 西安紫光国芯半导体有限公司 本科及以上|3年工作经验 上海 电子技术/半导体/集成电路 资深DFT工程师 面议 北京比特大陆科技有限公司 统招本科|经验不限 北凉 电子技术半导体/集成电路 9

2020/9/4 集成电路可测性设计 9 基本目的  使学生掌握VLSI系统测试和可测性设计的基本原理 和主要方法；  使学生把握VLSI系统测试和可测性设计的学科前沿 方向；  使学生对EDA系统中有关测试和可测性设计工具有 初步认识和实践体会； DFT是VLSI设计工程师的基本技能； 就职的需求：设计公司很多有DFT的试题和 要求。  百度一下“DFT 招聘”……

一、研究意义

一、研究意义

为什么需要DFT技术？ 冬下面需要了解一些产业背景和拓展的知识 11

 下面需要了解一些产业背景和拓展的知识 11 为什么需要DFT技术？

摩尔定律(Moore Law) 集成电路芯性能提高大致符合摩尔定律，即集成电 路单位面积上可容纳的器件数量每年（其后期减慢 为18个月)会增加一倍，而成本却成比例地递减。 目前为止，集成电路的发展仍然符合摩尔定律。 070 12

摩尔定律（Moore Law）  集成电路芯性能提高大致符合摩尔定律，即集成电 路单位面积上可容纳的器件数量每年(其后期减慢 为18个月)会增加一倍，而成本却成比例地递减。 目前为止，集成电路的发展仍然符合摩尔定律。 12