《材料显微结构分析》课程教学资源（实验指导）实验六 锥光镜下干涉图的观察与测定

山东理工大学实验报告 材料科学与工程学院14级2班同组者冯永通赵执伟汤海佩 成 绩■ 室温： 气压： 课程名称：无机材料显微结构分析 教师签字」 实验项目 锥光镜下干涉图的观察与测定 指导 杨富贵 编码(6) 教师 实验目的 掌握雏光镜的装置和使用，并了解其光学特点： 2.认识一轴晶主要切面类型干涉图的图像特点： 3.学会应用垂直光轴切面或斜交光轴切面干涉图，测定一轴晶矿物的光性 符号： 4.认识二轴晶主要切面类型干涉图的图像特点 5.学会应用垂直Bxa切面或垂直光轴切面干涉图测定光性符号的方法。 实验仪器（编 偏光显微镜、试样薄片 号)材料工具 一、实验内容： 1.观察一轴晶垂直光轴（或斜交光轴切面的干涉图特点，并使用石膏试板（或云母试板 石英楔)测定光性符号： 2.观察二轴晶垂直Bxa切面干涉图的图像特点，并应用云母试板（或石音试板、石英楔）测 定其光性符号。 二、实验指导： (一)维光镜下观察的操作程序： 1.用中倍或低信物镜。在岩石薄片中选择一个适于测定的矿物颗粒（尽可能找较大的颗粒）， 移至视域中心。如果用单矿物定向矿片可省略这个步骤。直接把定向矿片置视域中心。 2.加入聚光镜，并把聚光镜升到最高位置。注意千万不要顶住矿片。 3.换用高倍物镜(46×或63×)，仔细调好焦距 4.将欲观察的矿片置于视域中心，转动物台一周确保矿片不移出中心。 5.加入上偏光镜及勃氏镜即能看到干涉图（如果显微镜中没有装置勃氏镜，去掉目镜亦能看 到干涉图) 注意：由于高倍物镜工作距离近，不要把盖玻璃朝下，否则无法准焦：要侧视物镜，在下降 实验室名称：偏光显微镜实验室 2017年4月6日

实验室名称：偏光显微镜实验室 2017 年 4 月 6 日 山东理工大学实验报告 材料科学与工程 学院 14 级 02 班 同组者 冯永通 赵执伟 汤海佩 成 绩 室温： 气压： 课程名称：无机材料显微结构分析 教师签字 实 验 项 目 编 码（6） 锥光镜下干涉图的观察与测定 指 导 教 师 杨富贵 实验目的 1．掌握锥光镜的装置和使用，并了解其光学特点； 2．认识一轴晶主要切面类型干涉图的图像特点； 3．学会应用垂直光轴切面或斜交光轴切面干涉图，测定一轴晶矿物的光性 符号； 4．认识二轴晶主要切面类型干涉图的图像特点； 5．学会应用垂直 Bxa 切面或垂直光轴切面干涉图测定光性符号的方法。 实验仪器（编 号）材料工具 偏光显微镜、试样薄片 一、实验内容： 1．观察一轴晶垂直光轴(或斜交光轴)切面的干涉图特点，并使用石膏试板（或云母试板、 石英楔）测定光性符号； 2．观察二轴晶垂直 Bxa 切面干涉图的图像特点，并应用云母试板(或石膏试板、石英楔)测 定其光性符号。 二、实验指导： （一）锥光镜下观察的操作程序： 1．用中倍或低信物镜。在岩石薄片中选择一个适于测定的矿物颗粒(尽可能找较大的颗粒)， 移至视域中心。如果用单矿物定向矿片可省略这个步骤。直接把定向矿片置视域中心。 2．加入聚光镜，并把聚光镜升到最高位置。注意千万不要顶住矿片。 3．换用高倍物镜(46×或 63×)，仔细调好焦距。 4．将欲观察的矿片置于视域中心，转动物台一周确保矿片不移出中心。 5．加入上偏光镜及勃氏镜即能看到干涉图(如果显微镜中没有装置勃氏镜，去掉目镜亦能看 到干涉图)。 注意：由于高倍物镜工作距离近，不要把盖玻璃朝下，否则无法准焦；要侧视物镜，在下降

物台中准焦，否则容易压碎矿片，损坏镜头。在以后的实验中应注意，欲测矿片在高倍镜下 要占据整个视域。 (二)测定矿片切面类型、轴性和光性符号的方法： 1.根据干涉图的特点判断切面类型和轴性， 2.根据加入试板前后干涉图的干涉色变化情况判断光性正负。 3.一轴晶垂直光轴（或斜交光轴）切面干涉图的关键是光轴出露点和黑十字的四个象限， 以此判断Ne和No的方向： 4.二轴晶垂直Bx切面干涉图的关健是两个光轴出露点的连线，垂直该连线的方向（也是 弯曲黑带的平分线的方向)是Nm的方向：该连线上两个光轴出露点之间是Bx0投影线的 方向，两个光轴出露点之外是Bxa投影线方向。 一、一轴晶干涉图的观察与测定 方解石切片干涉图像成十字形状，转动载物台不发生变化，插入石音试板后，一三象网 干涉色升高变蓝，二四象限降低变红，所以，一三象限即为长轴O方向，二四象限为短轴 方向，呈正光性。 石英切片干涉图像，如图，插入石膏试板后，一三象限干涉色降低变红，二四象限升高 变蓝，所以，二四象限即为长轴OA方向，一三象限为短轴方向，呈负光性。 实验室名称：偏光显徽镜实验室 2017年4月6日

实验室名称：偏光显微镜实验室 2017 年 4 月 6 日 物台中准焦，否则容易压碎矿片，损坏镜头。在以后的实验中应注意，欲测矿片在高倍镜下 要占据整个视域。 （二）测定矿片切面类型、轴性和光性符号的方法： 1．根据干涉图的特点判断切面类型和轴性， 2．根据加入试板前后干涉图的干涉色变化情况判断光性正负。 3．一轴晶垂直光轴(或斜交光轴)切面干涉图的关键是光轴出露点和黑十字的四个象限， 以此判断 Ne 和 No 的方向； 4．二轴晶垂直 Bxa 切面干涉图的关键是两个光轴出露点的连线，垂直该连线的方向（也是 弯曲黑带的平分线的方向）是 Nm 的方向；该连线上两个光轴出露点之间是 Bxo 投影线的 方向，两个光轴出露点之外是 Bxa 投影线方向。 一、一轴晶干涉图的观察与测定 方解石切片干涉图像成十字形状，转动载物台不发生变化，插入石膏试板后，一三象限 干涉色升高变蓝，二四象限降低变红，所以，一三象限即为长轴 OA 方向，二四象限为短轴 方向，呈正光性。 石英切片干涉图像，如图，插入石膏试板后，一三象限干涉色降低变红，二四象限升高 变蓝，所以，二四象限即为长轴 OA 方向，一三象限为短轴方向，呈负光性

二、二轴晶干涉图的观察 如图，白云母切片视野中只有一条黑带，插入石膏试板后，干涉色降低变黄， Bxa=Np,呈正光性。 实险室名称：偏光显徽镜实检室 2017年4月6日

实验室名称：偏光显微镜实验室 2017 年 4 月 6 日 二、二轴晶干涉图的观察 如图，白云母切片视野中只有一条黑带，插入石膏试板后，干涉色降低变黄， Bxa=Np，呈正光性