中国地质大学（武汉）：《数字逻辑实验》课程教学资源（实验内容）实验九 竞争冒险（设计性）

实验九竞争冒险（设计性） 一、实验目的 通过实验观察组合电路中存在的竞争冒险现象，学会用实验手段消除竞争冒险对电路 的影响。 二、实验内容 1.八位串行奇偶校验电路竞争冒险现象的观察及消除。 图9.1所示电路为八位串行奇偶校验电路， 图9.1八位串行奇、偶校验电路 按图接线。 测试电路的逻辑功能。a.b,g,h分别接逻辑开关K1~K:z接发光二极管显示，改 变K1~K的状态，观察并记录乙的变化。 a接脉冲，bc…h接高电平.用示波器观察并记录a和y满的波形测出信号经七级异 或门的延迟时间， a和h端接同一脉冲，bcg为高电平，观察并记录a和y端的波形，说明y端的波 形有何异常现象？ 若采用加电容的办法来消除此异常现象，则电容ε应接在何处？ 测出门电路的阚值电压V,若设门的输出电阻R,≈1000，估算电容C值的大小？ 用实验法测出消除上述异常现象所需的电容值，说明产生误差的原因有那些？ 2组合电路竟争冒险现象的观察及消除 组合电路如图9.2所示。 测试电路功能·结果列成真值表形式。 用实验法测定，在信号变化过程中，竞争冒险在何处.什么时刻可能出现？ 用校正项的办法来消除竞争冒险，则电路应怎样修改？画出修改后的电路，并用实验 验证之， 苦改用加滤波电容的办法来消除竞争冒险，则电容C应加在何处？其值约为多大？试 -1-

通过实验验证之。 三、思考题 什么叫组合电路的竟争冒险现象？它是怎 样产生的？通常有哪几种消除的办法？实验中你 T 认为较为简单的方法是哪种？使用时应注意什 么问题？ 四、材料 ABD ACD ABC ABD 0 TTL芯片： 图9.2 74LS86四2输入异或门 2片 74LS10三3输入入与非门2片 74LS20四输入双与非门1片 -2-