《材料测试技术及方法》课程教学资源(讲稿)06 第二篇 第六章 X射线衍射方法

第二章衍射分析 A(之二) X射线衍射方法 第一节多晶体衍射方法 第二节单晶体衍射方法 1
1 第二章 衍射分析 (之二) X射线衍射方法 第一节 多晶体衍射方法 第二节 单晶体衍射方法

思考:如果让你利用前面所学 知识,设计一个装置来测量某 种物质的成分与结构,你会怎 么做? (1)产生X射线的装置 (2)获得0角信息的装置 控制计算装置 (3)测量记录衍射后的X射线强度的装置 2
2 思考:如果让你利用前面所学 知识,设计一个装置来测量某 种物质的成分与结构,你会怎 么做? (1)产生X射线的装置 (2)获得θ角信息的装置 (3)测量记录衍射后的X射线强度的装置 控 制 计 算 装 置

X射线分析方法 德拜法(德拜-谢乐法)* 照相法 聚焦法# 多晶体衍射方法 针孔法 衍射仪法* 劳埃(Laue)法# 单晶体衍射方法 周转晶体法 四圆衍射仪 3
3 德拜法(德拜-谢乐法)* 照相法 聚焦法# 多晶体衍射方法 针孔法 衍射仪法 * 劳埃(Laue)法# 单晶体衍射方法 周转晶体法 四圆衍射仪 X射线分析方法

第一节多晶体衍射方法 一、 (粉末)照相法 (粉末)照相法以光源(X射线管)发出的单色光(特 征X射线,一般为K。射线)照射(粉末)多晶体(圆 柱形)样品,用底片记录产生的衍射线。 承用其轴线与样品轴线重合的圆柱形底片记录者称为德 拜(Debye)法; 用平板底片记录者称为针孔法。 承较早的X射线衍射分析多采用照相法,而德拜法是常 用的照相法,一般称照相法即指德拜法,德拜法照相 装置称德拜相机
4 第一节 多晶体衍射方法 一、(粉末)照相法 (粉末)照相法以光源(X射线管)发出的单色光(特 征X射线,一般为K射线)照射(粉末)多晶体(圆 柱形)样品,用底片记录产生的衍射线。 ж 用其轴线与样品轴线重合的圆柱形底片记录者称为德 拜(Debye)法; ж 用平板底片记录者称为针孔法。 ж 较早的X射线衍射分析多采用照相法,而德拜法是常 用的照相法,一般称照相法即指德拜法,德拜法照相 装置称德拜相机

1、成像原理与衍射花样特征 样品中(HKL)晶面发生衍射,其倒易点 落于厄瓦尔德球上,而样品内同名 (HKL)面方向各异,其倒易点与厄瓦尔 德球相交为圆环状,因而同名(KL)面 衍射线将构成以入射线为轴,20为半缝角 的圆维体-(HKL)竹射圆维。 不周(HKL)晶面竹射角20不同,但各衍 射圆维共项,而等同品面竹射圆雅则重叠, (20)相同。 5
5 1、成像原理与衍射花样特征 • 样品中(HKL)晶面发生衍射,其倒易点 落于厄瓦尔德球上,而样品内同名 (HKL)面方向各异,其倒易点与厄瓦尔 德球相交为圆环状,因而同名(HKL)面 衍射线将构成以入射线为轴,2θ为半锥角 的圆锥体-(HKL)衍射圆锥。 • 不同(HKL)晶面衍射角2θ不同,但各衍 射圆锥共顶,而等同晶面衍射圆锥则重叠, ( 2θ )相同

b a (HKL)晶面 X射线在(HKL)晶体表面的衍射 6
6 a b c X射线 在(HKL)晶体表面的衍射 (HKL)晶面

同名(HKL)晶面 7
7 同名(HKL)晶面

样品 入射线线束 8
8 入射线线束 样品

照片 入射射线束 样品
9 L 入射射线束 样品 照片

照相法 入射线 底 衍射仪法 10
10
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