山东农业大学:电工电子实验教学中心(实验教材)数字电子技术实验指导书

数字电子技术实验主编:李天华衣艺山东农业大学机械与电子工程学院使用DTTacuoTneointH
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目录1、使用要求及注意事项2、数字电路基本知识3、基本实验实验一基本逻辑门逻辑实验.5实验四数据选择器和译码器,.8实验七触发器115、附录常用实验器件引线图..-16注:其它实验项目可根据教学要求自拟实验内容、步骤、方法。1PDF文件使用"pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
1 目 录 1、使用要求及注意事项 2、数字电路基本知识.1 3、基本实验 实验一基本逻辑门逻辑实验.5 实验四 数据选择器和译码器.8 实验七 触发器.11 5、附录 常用实验器件引线图 .16 注:其它实验项目可根据教学要求自拟实验内容、步骤、方法。 PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn

1、实验要求及注意事项1、实验前必充分预习实验内容,做到思路清晰,实验任务明确。2、实验时认真阅读实验指导书,按电路原理图正确连接实验导线,仔细检查无误,方可通电实验。3、实验中多注意观察,如有元器件冒烟、发烫或有异味等应立即关断电源,报告实验老师,待找出原因、排除故障后才能重新实验。4、实验中须更改连线,必须切断电源后才能进行。5、实验中应仔细观察实验现象,认真记录实验结果、数据、波形、分析正确与否。6、实验结束关闭电源,拔除电源插头,并将仪器设备、工具、导线等按规定整理好。2PDF文件使用"pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
2 1、实验要求及注意事项 1、实验前必充分预习实验内容,做到思路清晰,实验任务明确。 2、实验时认真阅读实验指导书,按电路原理图正确连接实验导线,仔 细检查无误,方可通电实验。 3、实验中多注意观察,如有元器件冒烟、发烫或有异味等应立即关断 电源,报告实验老师,待找出原因、排除故障后才能重新实验。 4、实验中须更改连线,必须切断电源后才能进行。 5、实验中应仔细观察实验现象,认真记录实验结果、数据、波形、分 析正确与否。 6、实验结束关闭电源,拔除电源插头,并将仪器设备、工具、导线等 按规定整理好。 PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn

2、数电路实验基本知识一、数字集成电路封装中、小规模数字IC中最常用的是TTL电路和CMOS电路。TTL器件型号以74(或54)作前缀,称为74/54系列,如74LS10、74LS181、54S86等。中、小规模CMOS数字集成电路主要是4XXX/45XX(X代表0一9的数字)系列,高速CMOS电路HC(74HC系列),与TTL兼容的高速CMOS电路HCT(74HCT系列)。TTI电路与CMOS电路各有优缺点,TTL速度高,CMOS电路功耗小、电源范围大、抗于扰能力强。由于TTL在世界范围内应用很广,所以在数字电路教学实验中,我们主要使用TTL74系列电路作为实验用器件,采用单一+5V作为供电电源。数字IC器件有多种封装形式。为了教学实验方便,实验中所用的74系列器件封装选用双列直插式。图1是双列直插封装的正面示意图。双列直插封装有以下特点:OC6543214443424140C福73983814132C371210363113541012广34T913336R814732口15311630C口1729门1819202122232425262728OOOOO图1DIP双列直插式封装图图2PLCC封装图1、从正面(上面)看,器件一端有一个半圆的缺口,这是正方向的标志。缺口左边的引脚号为1,引脚号按逆时针方向增加。图1中的数字表示引脚号。双列直插封装IC引脚数有14、16、20、24、28等若干种。2、双列直插器件有两列引脚。引脚之间的间距是2.54毫米。两列引脚之间的距离有宽(15.24毫米)、窄(7.62毫米)两种。两列引脚之间的距离能够少做改变,引脚间距不能改变。将器件插入实验板上的插座中去,从插座中拔出时要小心,不要将器件引脚搞弯或折断。3、74系列器件一般左下角的最后一个引脚是GND,右上角的引脚是Vcc。例3PDF文件使用"pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
3 2、数字电路实验基本知识 一、数字集成电路封装 中、小规模数字 IC 中最常用的是 TTL 电路和 CMOS 电路。TTL 器件型号以 74(或 54)作前缀,称为 74/54 系列,如 74LS10、74LS181、54S86 等。中、小规 模 CMOS 数字集成电路主要是 4XXX/45XX(X 代表 0—9 的数字)系列,高速 CMOS 电路 HC(74HC 系列),与 TTL 兼容的高速 CMOS 电路 HCT(74HCT 系列)。TTL 电路与 CMOS 电路各有优缺点,TTL 速度高,CMOS 电路功耗小、电源范围大、 抗干扰能力强。由于 TTL 在世界范围内应用很广,所以在数字电路教学实验中,我 们主要使用 TTL74 系列电路作为实验用器件,采用单一+5V 作为供电电源。 数字 IC 器件有多种封装形式。为了教学实验方便,实验中所用的 74 系列器件 封装选用双列直插式。图 1 是双列直插封装的正面示意图。双列直插封装有以下特 点: 图 1 DIP 双列直插式封装图 图 2 PLCC 封装图 1、从正面(上面)看,器件一端有一个半圆的缺口,这是正方向的标志。缺 口左边的引脚号为 1,引脚号按逆时针方向增加。图 1 中的数字表示引脚号。双列 直插封装 IC 引脚数有 14、16、20、24、28 等若干种。 2、双列直插器件有两列引脚。引脚之间的间距是 2.54 毫米。两列引脚之间的 距离有宽(15.24 毫米)、窄(7.62 毫米)两种。两列引脚之间的距离能够少做改变, 引脚间距不能改变。将器件插入实验板上的插座中去,从插座中拔出时要小心,不 要将器件引脚搞弯或折断。 3、74 系列器件一般左下角的最后一个引脚是 GND,右上角的引脚是 VCC 。例 1 2 3 4 5 6 7 14 13 12 11 10 9 8 6 5 4 3 2 1 44 43 42 41 40 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 39 38 37 36 35 34 33 32 31 30 29 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn

如,14引脚器件引脚7是GND,引脚14是Vcc:20引脚器件引脚10是GND,引脚20是Vcc。但也有一些例外,例如16引脚的双JK触发器74LS76,引脚13(不是引脚8)是GND,引脚5(不是引脚16)是Vcc。所以使用集成电路器件时要先看清它的引脚图,找对电源和地,避免因接线错误造成器件损环。数字电路综合实验中,使用的复杂可编程逻辑器件EPM7032是44引脚的PLCC(PlasticLeadedChipCarrier)封装,图2是封装正面图。器件上的小圆圈指示引脚1,引脚号按时针方向增加,引脚2在引脚1的左边,引脚44在引脚1的右边。EPM7032有多个电源引脚号、地引脚号,器件的缺角要对准插座的缺角。PLCC封装器件管脚较多拨出时应更加小心,可以使用专门的起拨器,也可以使用镊子从对角缝隙轻轻拔出。实验设备上的接线端上的接线采用自锁紧插头、插孔(插座)。使用自锁紧插头、插孔接线时,首先把插头插进插孔中,然后将插头按顺时针方向轻轻一拧则锁紧。拔出插头时,首先按逆时针方向轻轻拧一下插头,使插头和插孔之间松开,然后将插头从插孔中拨出。不要使劲拨插头,以免损坏插头和连线,必须注意,不能带电插、拨器件。插、拨器件只能在关断电源的情况下进行。三、数字电路测试及故障查找、排除设计好一个数字电路后,要对其进行测试,以验证设计是否正确。测试过程中,发现问题要分析原因,找出故障所在,并解决它。数字电路实验也遵循这些原则。1、数字电路测试数字电路测试大体上分为静态测试和动态测试两部分。静态测试指的是,给定数字电路若干组静态输入值,测试数字电路的输出值是否正确。数字电路设计好后,在实验台上连接成一个完整的线路。把线路的输入接逻辑开关输出,线路的输出接逻辑状态指示灯,按功能表或状态表的要求,改变输入状态,观察输入和输出之间的关系是否符合设计要求。静态测试是检查设计是否正确,接线是否无误的重要一步。在静态测试基础上,按设计要求在输入端加动态脉冲信号,观察输出端波形是否符合设计要求,这是动态测试。有些数字电路只需进行静态测试即可,有些数字电路则必须进行动态测试。一般地说,时序电路应进行动态测试。2、数字电路的故障查找和排除在数字电路实验中,出现问题是难免的。重要的是分析问题,找出出现问题的原因,从而解决它。一般地说,有四个方面的原因产生问题(故障):器件故障、接线错误、设计错误和测试方法不正确。在查找故障过程中,首先要熟悉经常发生的典型故障。(1)器件故障器件故障是器件失效或器件接插问题引起的故障,表现为器件工作不正常。不言而愉,器件失效肯定会引起工作不正常,这需要更换一个好器件。器件接插问题,如管脚折断或者器件的某个(或某些)引脚没插到插座中等,也会使器件工作不正常。对于器件接插错误有时不易发现,需仔细检查。判断器件失效的方法是用4PDF文件使用"pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
4 如,14 引脚器件引脚 7 是 GND,引脚 14 是 VCC ;20 引脚器件引脚 10 是 GND, 引脚 20 是 VCC 。但也有一些例外,例如 16 引脚的双 JK 触发器 74LS76,引脚 13 (不是引脚 8)是 GND,引脚 5(不是引脚 16)是 VCC 。所以使用集成电路器件时 要先看清它的引脚图,找对电源和地,避免因接线错误造成器件损坏。 数字电路综合实验中,使用的复杂可编程逻辑器件EPM7032是44引脚的PLCC (Plastic Leaded Chip Carrier)封装,图 2 是封装正面图。器件上的小圆圈指示引脚 1,引脚号按逆时针方向增加,引脚 2 在引脚 1 的左边,引脚 44 在引脚 1 的右边。 EPM7032 有多个电源引脚号、地引脚号,器件的缺角要对准插座的缺角。PLCC 封 装器件管脚较多拔出时应更加小心,可以使用专门的起拔器,也可以使用镊子从对 角缝隙轻轻拔出。 实验设备上的接线端上的接线采用自锁紧插头、插孔(插座)。使用自锁紧插 头、插孔接线时,首先把插头插进插孔中,然后将插头按顺时针方向轻轻一拧则锁 紧。拔出插头时,首先按逆时针方向轻轻拧一下插头,使插头和插孔之间松开,然 后将插头从插孔中拔出。不要使劲拔插头,以免损坏插头和连线。 必须注意,不能带电插、拔器件。插、拔器件只能在关断电源的情况下进行。 三、数字电路测试及故障查找、排除 设计好一个数字电路后,要对其进行测试,以验证设计是否正确。测试过程中, 发现问题要分析原因,找出故障所在,并解决它。数字电路实验也遵循这些原则。 1、数字电路测试 数字电路测试大体上分为静态测试和动态测试两部分。静态测试指的是,给定 数字电路若干组静态输入值,测试数字电路的输出值是否正确。数字电路设计好后, 在实验台上连接成一个完整的线路。把线路的输入接逻辑开关输出,线路的输出接 逻辑状态指示灯,按功能表或状态表的要求,改变输入状态,观察输入和输出之间 的关系是否符合设计要求。静态测试是检查设计是否正确,接线是否无误的重要一 步。 在静态测试基础上,按设计要求在输入端加动态脉冲信号,观察输出端波形是 否符合设计要求,这是动态测试。有些数字电路只需进行静态测试即可,有些数字 电路则必须进行动态测试。一般地说,时序电路应进行动态测试。 2、数字电路的故障查找和排除 在数字电路实验中,出现问题是难免的。重要的是分析问题,找出出现问题的 原因,从而解决它。一般地说,有四个方面的原因产生问题(故障):器件故障、 接线错误、设计错误和测试方法不正确。在查找故障过程中,首先要熟悉经常发生 的典型故障。 (1)器件故障 器件故障是器件失效或器件接插问题引起的故障,表现为器件工作不正常。 不言而喻,器件失效肯定会引起工作不正常,这需要更换一个好器件。器件接插问 题,如管脚折断或者器件的某个(或某些)引脚没插到插座中等,也会使器件工作 不正常。对于器件接插错误有时不易发现,需仔细检查。判断器件失效的方法是用 PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn

集成电路测试仪测试器件。需要指出的是,一般的集成电路测试仪只能检测器件的某些静态特性。对负载能力等静态特性和上升沿、下降沿、延迟时间等动态特性,一般的集成电路测试仪不能测试。测试器件的这些参数,须使用专门的集成电路测试仪。(2)接线错误接线错误是最常见的错误。据有人统计,在教学实验中,大约百分之七十以上的故障是由接线错误引起的。常见的接线错误包括忘记接器件的电源和地:连线与插孔接触不良:连线经多次使用后,有可能外面塑料包皮完好,但内部线断:连线多接、漏接、错接;连线过长、过乱造成干扰。接线错误造成的现象多种多样,例如器件的某个功能块不工作或工作不正常,器件不工作或发热,电路中一部分工作状态不稳定等。解决方法大致包括:熟悉所用器件的功能及其引脚号,知道器件每个引脚的功能;器件的电源和地一定要接对、接好:检查连线和插孔接触是否良好:检查连线有无错接、多接、漏接:检查连线中有无断线。最重要的是接线前要画出接线图,按图接线,不要凭记忆随想随接:接线要规范、整齐,尽量走直线短线,以免引起干扰。(3)设计错误设计错误自然会造成与预想的结果不一致。原因是对实验要求没有吃透,或者是对所用器件的原理没有掌握。因此实验前一定要理解实验要求,掌握实验线路原理,精心设计。初始设计完成后一般应对设计进行优化。最后画好逻辑图及接线图。(4)测试方法不正确如果不发生前面所述三种错误,实验一般会成功。但有时测试方法不正确也会引起观测错误。例如,一个稳定的波形,如果用示波器观测,而示波器没有同步,则造成波形不稳的假象。因此要学会正确使用所用仪器、仪表。在数字电路实验中,尤其要学会正确使用示波器。在对数字电路测试过程中,由于测试仪器、仪表加到被测电路上后,对被测电路相当于一个负载,因此测试过程中也有可能引起电路本身工作状态的改变,这点应引起足够注意。不过,在数字电路实验中,这种现象很少发生。当实验中发现结果与预期不一致时,千万不要慌乱。应仔细观测现象,冷静思考问题所在。首先检查仪器、仪表的使用是否正确。在正确使用仪器、仪表的前提下,按逻辑图和接线图逐级查找问题出现在何处。通常从发现问题的地方,一级一级向前测试,直到找出故障的初始发生位置。在故障的初始位置处,首先检查连线是否正确。前面已说过,实验故障绝大部分是由接线错误引起的,因此检查一定要认真、仔细。确认接线无误后,检查器件引脚是否全部正确插进插座中,有无引脚折断、弯曲、错插问题以及实验板器件插接端与引出端是否有断路或旁接现象。确认无上述问题后,取下器件测试,以检查器件好环,或者直接换一个好器件。如果器件和接线都正确,则需考虑设计问题。5PDF文件使用"pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
5 集成电路测试仪测试器件。需要指出的是,一般的集成电路测试仪只能检测器件的 某些静态特性。对负载能力等静态特性和上升沿、下降沿、延迟时间等动态特性, 一般的集成电路测试仪不能测试。测试器件的这些参数,须使用专门的集成电路测 试仪。 (2)接线错误 接线错误是最常见的错误。据有人统计,在教学实验中,大约百分之七十以 上的故障是由接线错误引起的。常见的接线错误包括忘记接器件的电源和地;连线 与插孔接触不良;连线经多次使用后,有可能外面塑料包皮完好,但内部线断;连 线多接、漏接、错接;连线过长、过乱造成干扰。接线错误造成的现象多种多样, 例如器件的某个功能块不工作或工作不正常,器件不工作或发热,电路中一部分工 作状态不稳定等。解决方法大致包括:熟悉所用器件的功能及其引脚号,知道器件 每个引脚的功能;器件的电源和地一定要接对、接好;检查连线和插孔接触是否良 好;检查连线有无错接、多接、漏接;检查连线中有无断线。最重要的是接线前要 画出接线图,按图接线,不要凭记忆随想随接;接线要规范、整齐,尽量走直线、 短线,以免引起干扰。 (3)设计错误 设计错误自然会造成与预想的结果不一致。原因是对实验要求没有吃透,或 者是对所用器件的原理没有掌握。因此实验前一定要理解实验要求,掌握实验线路 原理,精心设计。初始设计完成后一般应对设计进行优化。最后画好逻辑图及接线 图。 (4)测试方法不正确 如果不发生前面所述三种错误,实验一般会成功。但有时测试方法不正确也 会引起观测错误。例如,一个稳定的波形,如果用示波器观测,而示波器没有同步, 则造成波形不稳的假象。因此要学会正确使用所用仪器、仪表。在数字电路实验中, 尤其要学会正确使用示波器。在对数字电路测试过程中,由于测试仪器、仪表加到 被测电路上后,对被测电路相当于一个负载,因此测试过程中也有可能引起电路本 身工作状态的改变,这点应引起足够注意。不过,在数字电路实验中,这种现象很 少发生。 当实验中发现结果与预期不一致时,千万不要慌乱。应仔细观测现象,冷静思 考问题所在。首先检查仪器、仪表的使用是否正确。在正确使用仪器、仪表的前提 下,按逻辑图和接线图逐级查找问题出现在何处。通常从发现问题的地方,一级一 级向前测试,直到找出故障的初始发生位置。在故障的初始位置处,首先检查连线 是否正确。前面已说过,实验故障绝大部分是由接线错误引起的,因此检查一定要 认真、仔细。确认接线无误后,检查器件引脚是否全部正确插进插座中,有无引脚 折断、弯曲、错插问题以及实验板器件插接端与引出端是否有断路或旁接现象。确 认无上述问题后,取下器件测试,以检查器件好坏,或者直接换一个好器件。如果 器件和接线都正确,则需考虑设计问题。 PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn

3、基本实验实验一基本逻辑门逻辑实验一、实验目的1、掌握TTL与非门、与或门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。2、熟悉TTL中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。二、实验所用器件和仪表1片1、二输入四与非门74LS001片2、二输入四或非门74LS281片3、二输入四异或门74LS86三、实验内容1、测试二输入四与非门74LS00一个与非门的输入和输出之间的逻辑关系2、测试二输入四或非门74LS28一个或非门的输入和输出之间的逻辑关系3、测试二输入四异或门74LS86一个异或门的输入和输出之间的逻辑关系四、实验提示1、将被测器件插入实验箱上的14脚插座中。2、将器件的引脚7与实验箱的“地(GND)”连接,将器件的引脚14与实验箱的+5V连接。3、用实验箱的逻辑开关输出作为被测器件的输入。按入或弹出逻辑开关,则改变器件的输入电平。4、将被测器件的输出引脚与实验箱上的逻辑状态显示灯连接。指示灯亮红色表示输出电平为1,指示灯亮绿色表示输出电平为0。五、实验接线图及实验结果74LS00中包含4个二与非门,74LS28中包含4个二或非门,74LS86中包含4个二异或门,下面各画出测试第一个逻辑门逻辑关系的接线图及测试结果。测试其它逻辑门时的接线图与之类似。测试时各器件的引脚7接地,引脚14接+5V。图中的K1、K2是逻辑开关输出,LED0是逻辑状态显示灯。1、测试74LS00逻辑关系接线图及测试结果U2AK1营LELO27ALS006PDF文件使用”pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
6 3、基本实验 实验一 基本逻辑门逻辑实验 一、实验目的 1、掌握 TTL 与非门、与或门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。 2、熟悉 TTL 中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。 二、实验所用器件和仪表 1、二输入四与非门 74LS00 1 片 2、二输入四或非门 74LS28 1 片 3、二输入四异或门 74LS86 1 片 三、实验内容 1、测试二输入四与非门 74LS00 一个与非门的输入和输出之间的逻辑关系 2、测试二输入四或非门 74LS28 一个或非门的输入和输出之间的逻辑关系 3、测试二输入四异或门 74LS86 一个异或门的输入和输出之间的逻辑关系 四、实验提示 1、将被测器件插入实验箱上的 14 脚插座中。 2、将器件的引脚 7 与实验箱的“地(GND)”连接,将器件的引脚 14 与实验箱的 +5V 连接。 3、用实验箱的逻辑开关输出作为被测器件的输入。按入或弹出逻辑开关,则改变 器件的输入电平。 4、将被测器件的输出引脚与实验箱上的逻辑状态显示灯连接。指示灯亮红色表示 输出电平为 1,指示灯亮绿色表示输出电平为 0。 五、实验接线图及实验结果 74LS00 中包含 4 个二与非门,74LS28 中包含 4 个二或非门,74LS86 中包 含 4 个二异或门,下面各画出测试第一个逻辑门逻辑关系的接线图及测试结果。 测试其它逻辑门时的接线图与之类似。测试时各器件的引脚 7 接地,引脚 14 接 +5V。图中的 K1、K2 是逻辑开关输出,LED0 是逻辑状态显示灯。 1、测试 74LS00 逻辑关系接线图及测试结果 PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn

图1.1测试74LS00逻辑关系接输入输出线图表1.174LS00真值表引脚1引脚2引脚3LLH2、测试74LS28逻辑关系接线图及测HLHLHHU.A3HHLKI21试结果LIDO).K2输入输出741.828引脚1引脚2引脚3LLH图1.2测试74LS28逻辑关系接线图LHL表1.274LS28真值表HLLHHL3、测试74LS86逻辑关系接线图及测试结果输入输出A引脚1引脚2引脚32LLLLELLHHK2HLH1.s3HHL表1.2图1.3测试74LS86逻辑关系接线图74LS86真值表六、实验报告整理实验结果,并分别测试各逻辑门的另三个门的逻辑关系,记录结果。实验二数据选择器和译码器一、实验目的1、熟悉数据选择器的逻辑功能。2、熟悉译码器的逻辑功能。二、实验所用器件和仪表7PDF文件使用"pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
7 图 1.1 测试 74LS00 逻辑关系接 线图 表 1.1 74LS00 真值表 2、测试 74LS28 逻辑关系接线图及测 试结果 图 1.2 测试 74LS28 逻辑关系接线图 表 1.2 74LS28 真值表 3、测试 74LS86 逻辑关系接线图及测 试结果 图 1.3 测试 74LS86 逻辑关系接线图 表 1.2 74LS86 真值表 六、实验报告 整理实验结果,并分别测试各逻辑门的另三个门的逻辑关系,记录结果。 实验二 数据选择器和译码器 一、实验目的 1、熟悉数据选择器的逻辑功能。 2、熟悉译码器的逻辑功能。 二、实验所用器件和仪表 输 入 输 出 引脚 1 引脚 2 引脚 3 L L H L H H H L H H H L 输 入 输 出 引脚 1 引脚 2 引脚 3 L L H L H L H L L H H L 输 入 输 出 引脚 1 引脚 2 引脚 3 L L L L H H H L H H H L PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn

1片1、双4选1数据选择器74LS1531片2、双2—4线译码器74LS1393、万用表4、示波器三、实验内容1、测试74LS153中一个4选1数据选择器的逻辑功能4个数据输入引脚1C0一1C3分别接实验板上的4个固定脉冲信号源或4位逻辑电平。改变数据选择器引脚A、B和使能引脚G的电平,产生8种不同的组合。观测每种组合下数据选器的输出波形或逻辑电平。2、测试74LS139中一个2一4译码器的逻辑功能。4个译码输出引脚Yo一Y3接逻辑状态指示灯。改变引脚G、B、A的电平,产生4种组合。观测并记录指示灯的显示状态。四、实验接线图及实验结果1、74LS153实验接线图和14.K21G号74LS153真值表2K31CK1MUX6CO57CIG4C23图2.174LS153实验接线C315图C1011912138PDF文件使用”pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
8 1、双 4 选 1 数据选择器 74LS153 1 片 2、双 2—4 线译码器 74LS139 1 片 3、万用表 4、示波器 三、实验内容 1、测试 74LS153 中一个 4 选 1 数据选择器的逻辑功能。 4 个数据输入引脚 1C0—1C3 分别接实验板上的 4 个固定脉冲信号源或 4 位逻辑 电平。改变数据选择器引脚 A、B 和使能引脚 G1的电平,产生 8 种不同的组合。观 测每种组合下数据选择器的输出波形或逻辑电平。 2、测试 74LS139 中一个 2—4 译码器的逻辑功能。 4 个译码输出引脚 Y0—Y3接逻辑状态指示灯。改变引脚 G、B、A 的电平,产生 4 种组合。观测并记录指示灯的显示状态。 四、实验接线图及实验结果 1、74LS153 实验接线图和 74LS153 真值表 图 2.1 74LS153 实验接线 图 14 2 1 6 5 4 3 15 10 11 12 13 7 9 MUX G 0_ 3 K2 K3 K1 C0 C1 C2 C3 G PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn

表 2.1174LS153真值表选通选择输入数据输入输出BGYACoC1C2C3XXxXxXHLLLLXXxLLLLHLHXxXLHXLXXLLLHXHXXLHHLLLXxLXLHLXXHXHHHXXXLLLHHXHLHXX图2.1中,K1、K2、K3是逻辑开关输出。2、74LS139实验接线图和74LS139真值表。U输入端F1LS139输出端XY选择允许G100I.EI2BAYOY1Y2Y3J3L.E116HXXHHHHL.I2LEDJLOLLLHHH12O11LLHL14HHH1D)T3LH0LHHLH91.5OHHLHHHL图2—274LS139实验接线图表2.274LS139真值表图2—2中,K1、K2、K3、是逻辑开关输出,LEDO、LED1、LED2、LED3是逻辑状态指示灯。3、74LS139和74LS153中,引脚G用于控制输出。在74LS153中,当G为高电平时,禁止输出,输出为低电平;当G为低电平时,允许输出,由数据选择端B、A决定CO、C1、C2、C3中的哪中数据送往数据输出端Y。在74LS139中,当G为高电平时,禁止输出,所有输出YO、Y1、Y2、Y3为高电平:当G为低电平时,允许输出,由数据选择端B、A决定输出YO、Y1、Y2、Y3中的哪路数据为低电平。9PDF文件使用“pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
9 表 2.1 74LS153 真值表 图 2.1 中,K1、K2、K3 是逻辑开关输出。 2、74LS139 实验接线图和 74LS139 真值表。 图 2—2 74LS139 实验接线图 表 2.2 74LS139 真值表 图 2—2 中,K1、K2、K3、是逻辑开关输出,LED0、LED1、LED2、LED3 是 逻辑状态指示灯。 3、74LS139 和 74LS153 中,引脚 G 用于控制输出。在 74LS153 中,当 G 为高电平 时,禁止输出,输出为低电平;当 G 为低电平时,允许输出,由数据选择端 B、 A 决定 C0、C1、C2、C3 中的哪中数据送往数据输出端 Y。在 74LS139 中,当 G 为高电平时,禁止输出,所有输出 Y0、Y1、Y2、Y3 为高电平;当 G 为低电平 时,允许输出,由数据选择端 B、A 决定输出 Y0、Y1、Y2、Y3 中的哪路数据为 低电平。 选择输入 数据输入 选通 输出 B A C0 C1 C2 C3 G Y X X X X X X H L L L L X X X L L L L H X X X L H L H X L X X L L L H X H X X L H H L X X L X L L H L X X H X L H H H X X X L L L H H X X X H L H 输入端 选择 输出端 允许 G B A Y0 Y1 Y2 Y3 H X X H H H H L L L L H H H L L H H L H H L H L H H L H L H H H H H L PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn
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