《材料测试技术及方法》课程教学资源（讲稿）-课件ppt_第二篇 衍射分析2

第二篇 衍射分析 X射线 特 X-ray

第二篇 衍射分析

第五章射线衍射原理 第六章射线衍射方法 第七章射线衍射分析的应用 实验仪器演示及谱图分析

◆ 第五章X射线衍射原理 ◆ 第六章X射线衍射方法 ◆ 第七章X射线衍射分析的应用 ◆ 实验 仪器演示及谱图分析

射线劳厄相机和德拜相机晶体分析仪

X射线劳厄相机和德拜相机晶体分析仪

X射线衍射仪

X射线衍射仪

概述 德拜法（德拜-谢乐法） 照相法 聚焦法 多晶体衍射方法 针孔法 6.1 衍射仪法 劳埃(Laue)法 单晶体衍射方法 周转晶体法 6.2 四圆衍射仪

劳埃（Laue）法 周转晶体法 四圆衍射仪 ◆ 概述 多晶体衍射方法 6.1 单晶体衍射方法 6.2 照相法 衍射仪法 德拜法（德拜-谢乐法） 聚焦法 针孔法

6.1 多晶体衍射方法 一、照相法— 粉末照相法 ·定义：以光源发出的特征X射线照射多晶样品， 并用底片记录衍射花样。 ·样品形状：粉末圆柱形，非粉末块、板或丝状。 ·分类： 德拜(Debye)法 聚焦法 针孔法

• 定义：以光源发出的特征X射线照射多晶样品， 并用底片记录衍射花样。 • 样品形状：粉末圆柱形，非粉末块、板或丝状。 • 分类： 德拜（Debye）法 聚焦法 针孔法 一、照相法——粉末照相法 6.1 多晶体衍射方法

德拜(Debye)法 ◆ 基本概念 实验参数选择 实验数据的测定

◆ 基本概念 ◆ 实验参数选择 ◆ 实验数据的测定 德拜（Debye）法

◆基本概念 样品状态：小块粉末 底片：窄条状，卷成圆柱状 安装位置：与样品同轴 智站盟餐 衍射花样：衍射弧 底片 H=-1H=0 入 20■l60rC) 520=00 0 图5.3点阵列衍射圆锥

◆ 基本概念 •样品状态：小块粉末 •底片：窄条状，卷成圆柱状 •安装位置：与样品同轴 •衍射花样：衍射弧

·德拜相机 0 德拜相机多晶分析仪 (部分)

德拜相机多晶分析仪 （部分） • 德拜相机

X线 X线 透射束光栏 透射束残察屏 底片 试样 出口 出国 入口 X射线 )正装法 (C反装法 X线 准直管 出可 (c)座正装法 正装法：胶片圆孔穿过承光管，开口在光栏两侧； 物相分析 反装法：胶片圆孔穿过光栏，开口在承光管两侧； 点阵常数的 偏装法：胶片两圆孔分别穿过光栏和承光管，开口 测定 在光栏和承光管之间。 点阵常数的 精确测定

正装法：胶片圆孔穿过承光管，开口在光栏两侧； 反装法：胶片圆孔穿过光栏，开口在承光管两侧； 偏装法：胶片两圆孔分别穿过光栏和承光管，开口 在光栏和承光管之间。 物相分析 点阵常数的 测定 点阵常数的 精确测定