北京工商大学：《信息论与编码》课程教学实验指导书

《信息论与编码》 实验指导书 北京工商大学计算机与信息工程学院 2011.9

1 《信息论与编码》 实验指导书 北京工商大学计算机与信息工程学院 2011.9

绪论实验系统概述 、概述 通信原理综合实验系统中,涉及有数字调制解调技术、纠错编译码技术、语音编码技术、数字 复接技术、基带传输技术、电话接口技术、数字接口技术等。该系统将当今的核心技术和新器件融 入通信原理课程,其具有以下特点 1.先进性:数字信号处理(DSP)技术+PFGA技术; 2.全面性:通过这些测试接口,可以对每一种电路模块的功能和性能有一个全面的了解。 3.系统性:每个电路测试模块可以放入多个系统中进行综合实验 4.基础性:与当今通信原理课程和教学大纲结合紧密; 1、电路组成概述 在通信原理综合实验系统中,主要由下列功能模块组成 1、显示控制模块 2、FPGA初始化模块 3、信道接口模块 4、DSP+FPGA处理模块 D/A模块 6、中频调制模块 7、中频解调模块 8、AD模块 9、测试模块 汉明编码模块 汉明译码模块 噪声模块 2345 电话接口(1、2)模块 DTMF(1、2)模块 PAM模块 ADPCM(1、2)模块 CⅤSD发模块 CⅤSD收模块 帧传输复接模块 帧传输解复接模块 AMI/HDB3码模块 CMI编码模块 CMI译码模块 模拟锁相环模块 数字锁相环模块 在该硬件平台中,模块化功能较强,其电路布局见图1所示。对于每一个模块,在PCB板上均 由白色线条将其明显分割开来,每个测试模块都能单独开设实验,便于教学与学习。 2

2 绪论 实验系统概述 一、 概述 通信原理综合实验系统中，涉及有数字调制解调技术、纠错编译码技术、语音编码技术、数字 复接技术、基带传输技术、电话接口技术、数字接口技术等。该系统将当今的核心技术和新器件融 入通信原理课程，其具有以下特点： 1. 先进性：数字信号处理（DSP）技术+PFGA 技术； 2. 全面性：通过这些测试接口，可以对每一种电路模块的功能和性能有一个全面的了解。 3. 系统性：每个电路测试模块可以放入多个系统中进行综合实验， 4. 基础性：与当今通信原理课程和教学大纲结合紧密； 1、电路组成概述 在通信原理综合实验系统中，主要由下列功能模块组成： 1、 显示控制模块 2、 FPGA 初始化模块 3、 信道接口模块 4、 DSP+FPGA 处理模块 5、 D/A 模块 6、 中频调制模块 7、 中频解调模块 8、 A/D 模块 9、 测试模块 10、 汉明编码模块 11、 汉明译码模块 12、 噪声模块 13、 电话接口（1、2）模块 14、 DTMF（1、2）模块 15、 PAM 模块 16、 ADPCM（1、2）模块 17、 CVSD 发模块 18、 CVSD 收模块 19、 帧传输复接模块 20、 帧传输解复接模块 21、 AMI/HDB3 码模块 22、 CMI 编码模块 23、 CMI 译码模块 24、 模拟锁相环模块 25、 数字锁相环模块 在该硬件平台中，模块化功能较强，其电路布局见图 1 所示。对于每一个模块，在 PCB 板上均 由白色线条将其明显分割开来，每个测试模块都能单独开设实验，便于教学与学习

在通信原理综合实验系统中,电源插座与电源开关在机箱的后面,电源模块在该实验平台电路 板的下面,它主要完成交流~220V到+5V、+12V、-12V的直流变换,给整个硬件平台供电 冲 盖 启Q定 画二2223 整举 藤茫遊法漏囊蹦滋

3 在通信原理综合实验系统中，电源插座与电源开关在机箱的后面，电源模块在该实验平台电路 板的下面，它主要完成交流220V 到+5V、+12V、-12V 的直流变换，给整个硬件平台供电。 测试模块 DSP+FPGA 模块 A/D 模块 DC/DC 模块 电话 2 模块 电源 液晶显示与键盘输入 噪声模块 D/A 模块 调制模块 解调模块 终端 B 终端 A 同步接口 汉明编码 译码 汉明 电话 1 模块 1 ADPCM 模块 收模块 CVSD DTMF2 接续控制 DTMF1 发模块 CVSD 2 ADPCM 模块 模块 复接 HDB3 码 模块 CMI 编码 模块 模拟锁相 环模块 CMI 译 码模块 解复接模块 图 1 通信原理综合实验系统布局图 数字锁相环 模块 PAM

实验一汉明码系统 实验原理和电路说明 差错控制编码的基本作法是:在发送端被传输的信息序列上附加一些监督码元,这些多余的码 元与信息之间以某种确定的规则建立校验关系。接收端按照既定的规则检验信息码元与监督码元之 间的关系,一旦传输过程中发生差错,则信息码元与监督码元之间的校验关系将受到破坏,从而可 以发现错误,乃至纠正错误。 通信原理综合实验系统中的纠错码系统采用汉明码(7,4)。所谓汉明码是能纠正单个错误的线 性分组码。它有以下特点 码长 最小码距d=3 信息码位 k=22-m-1 纠错能力t=1 监督码位 这里m位≥2的正整数,给定m后,既可构造出具体的汉明码(n,k) 汉明码的监督矩阵有n列m行,它的n列分别由除了全0之外的m位码组构成,每个码组只在 某列中出现一次。系统中的监督矩阵如下图所示 1110100 H=0111010 1101001 其相应的生成矩阵为 1000101 0100111 0010110 000101 汉明译码的方法,可以采用计算校正子,然后确定错误图样并加以纠正的方法 图2和图3给出汉明编码器和译码器电原理图。 图2汉明编码器电路原理图

4 实验一 汉明码系统 一、 实验原理和电路说明 差错控制编码的基本作法是：在发送端被传输的信息序列上附加一些监督码元，这些多余的码 元与信息之间以某种确定的规则建立校验关系。接收端按照既定的规则检验信息码元与监督码元之 间的关系，一旦传输过程中发生差错，则信息码元与监督码元之间的校验关系将受到破坏，从而可 以发现错误，乃至纠正错误。 通信原理综合实验系统中的纠错码系统采用汉明码（7，4）。所谓汉明码是能纠正单个错误的线 性分组码。它有以下特点： 码长 n=2m -1 最小码距 d=3 信息码位 k=2n -m-1 纠错能力 t=1 监督码位 r=n-k 这里 m 位≥2 的正整数，给定 m 后，既可构造出具体的汉明码（n，k）。 汉明码的监督矩阵有 n 列 m 行，它的 n 列分别由除了全 0 之外的 m 位码组构成，每个码组只在 某列中出现一次。系统中的监督矩阵如下图所示： 1 1 1 0 1 0 0 H= 0 1 1 1 0 1 0 1 1 0 1 0 0 1 其相应的生成矩阵为： 1 0 0 0 1 0 1 0 1 0 0 1 1 1 0 0 1 0 1 1 0 0 0 0 1 0 1 1 G= 汉明译码的方法，可以采用计算校正子，然后确定错误图样并加以纠正的方法。 图 2 和图 3 给出汉明编码器和译码器电原理图。 a6 a5 a4 a3 a2 a1 a0 a6 a5 a4 a3 图 3.4.1 汉明编码器电原理图 ● ● ● ● ● ● ● ● ● 图 2 汉明编码器电路原理图

错码 指示 校正子生成 8译码器 图3汉明译码器电路原理图 表1为(7,4)汉明编码输入数据与监督码元生成表。编码输出数据最先输出是abit,其次是 a5、a4……,最后输出a0位。 表1(7,4)汉明编码输入数据与监督码元生成表 4位信息位3位监督码元4位信息位3位监督码元 a6, as, a4, a3 a2, al, ao a6. as, a4, a? a,, a1 ao 0000 1000 101 0001 O11 1001 110 0010 1010 01 101 10l1 000 0100 1100 010 0l01 1101 001 0110 l110 0111 010 111 汉明编译码模块实验电路功能组成框图见图4和图5所示。 汉明编码模块实验电路工作原理描述如下 1、输入数据:汉明编码输入数据可以来自 ADPCM模块的 ADPCM码字,或来自同步数据端 口数据、异步端口数据、CVSD编码数据、m序列。选择 ADPCM码字由工作方式选择开关 SWC01中的 ADPCM状态决定,当处于 ADPCM状态时(插入跳线器),汉明编码器对 ADPCM 信号编码;否则处于非 ADPCM状态时(拔除跳线器),输入编码数据来自开关KCOI所设 置的位置,分别为同步数据端口数据、异步端口数据、CⅤSD编码数据、m序列。 2、m序列发生器:m序列用于测试汉明编码规则,输出信号与开关KWC0l位置表2所示: 表2跳线器KWC01与产生输出数据信号 选项 KWC01设置状态 MSEL2口口 口口 MSEL口口 m序列0码0011码010115位码长

5 a6 a5 a4 a3 a6 a5 a4 a3 a3 a3 a3 图 3.4.2 汉明译码器电原理图 校正子生成 3-8 译码器 错码 指示 7 6 5 4 3 2 1 ● ● ● ● ● ● ● ● 图 3 汉明译码器电路原理图 表 1 为（7，4）汉明编码输入数据与监督码元生成表。编码输出数据最先输出是 a6bit，其次是 a5、a4……，最后输出 a0位。 表 1 （7，4）汉明编码输入数据与监督码元生成表 4 位信息位 a6, a5, a4, a3 3 位监督码元 a2, a1, a0 4 位信息位 a6, a5, a4, a3 3 位监督码元 a2, a1, a0 0000 000 1000 101 0001 011 1001 110 0010 110 1010 011 0011 101 1011 000 0100 111 1100 010 0101 100 1101 001 0110 001 1110 100 0111 010 1111 111 汉明编译码模块实验电路功能组成框图见图 4 和图 5 所示。 汉明编码模块实验电路工作原理描述如下： 1、输入数据：汉明编码输入数据可以来自 ADPCM1 模块的 ADPCM 码字，或来自同步数据端 口数据、异步端口数据、CVSD 编码数据、m 序列。选择 ADPCM 码字由工作方式选择开关 SWC01中的ADPCM状态决定，当处于ADPCM状态时（插入跳线器），汉明编码器对ADPCM 信号编码；否则处于非 ADPCM 状态时（拔除跳线器），输入编码数据来自开关 KC01 所设 置的位置，分别为同步数据端口数据、异步端口数据、CVSD 编码数据、m 序列。 2、m 序列发生器：m 序列用于测试汉明编码规则，输出信号与开关 KWC01 位置表 2 所示： 表 2 跳线器 KWC01 与产生输出数据信号 表 3.4.2 跳线器 KWC01 与产生输出数据信号 选 项 KWC01 设置状态 M_SEL2 □ □ □ □ □ □ □ □ M_SEL1 □ □ □ □ □ □ □ □ m 序列 0/1 码 00/11 码 0110111 15 位码长

3、编码使能开关:此开关应与接收端汉明译码器使能开关同步使用,该开关处于使能状态 (HEN短路器插入),汉明码编码器工作;否则汉明码编码器不工作。需注意:汉明码编 码器不工作时, ADPCM和CSD话音数据无法通话,这是因为编码速率与信道速率不匹配 错码产生:错码产生专门设计用于测量汉明译码器的纠错和检错性能。输出错码与开关 KWC01位置参见表3所示 表3跳线器KWC01与插入错码信号 选项 KWCI设置状态 E MODO EMOD口口|口口 错码序列无错码错1位错2位错更多 错码可以用示波器从错码指示端口监测 汉明编码模块各测试点定义: 1、TPC0l:输入数据 2、TPC02:输入时钟 3、TPC03:编码模块输出数据(56 Kbtps/BPSK/DBPSK) 4、TPC04:编码模块输出时钟(56KHz/ BPSK/DBPSK) 5、TPC05:错码指示(无加错时,该点为低电平。) 汉明译码模块实验电路工作原理描述如下: 1、输λ信号选择开关:开关Kwol、Kwol用于选择输入信号和时钟是来自解调器信道或直接 来自汉明编码模块。当Kw1、Kw01设置在12位置(CH:左端),则输入信号来自信道 开关Kw0l、Kwo1设置在23位置(LOOP:右端),则输入信号来自汉明编码模块。 2、汉明译码器:主要由串/并变换器、校正子生成器、3/8译码器和纠错电路构成。该电路专门 由一个CPLD(EPM7128)实现 3、汉明译码使能开关:SW03中HEN与发端编码使能开关同步使用。 汉明译码模块各测试点定义 1、TPC01:输入时钟(56 KHZ BPSK/DBPSK) 2、TPC02:输入数据(56 Kbtps BPSK/DBPSK) 3、TPC03:检测错码指示 4、TPC04:输出时钟 5、TPC05:CVSD数据输出 6、TPC06:同步数据输出 7、TPC07:m序列输出 8、TPC08:异步数据输出

6 3、编码使能开关：此开关应与接收端汉明译码器使能开关同步使用，该开关处于使能状态 （H_EN 短路器插入），汉明码编码器工作；否则汉明码编码器不工作。需注意：汉明码编 码器不工作时，ADPCM 和 CVSD 话音数据无法通话，这是因为编码速率与信道速率不匹配。 4、错码产生：错码产生专门设计用于测量汉明译码器的纠错和检错性能。输出错码与开关 KWC01 位置参见表 3 所示： 表 3.4.3 跳线器 表 3 KWC01 跳线器 KWC01 与插入错码信号 与插入错码信号 选 项 KWC01 设置状态 E_MOD0 □ □ □ □ □ □ □ □ E_MOD1 □ □ □ □ □ □ □ □ 错码序列 无错码 错 1 位 错 2 位 错更多 错码可以用示波器从错码指示端口监测。 汉明编码模块各测试点定义： 1、TPC01：输入数据 2、TPC02：输入时钟 3、TPC03：编码模块输出数据（56Kbtps/BPSK/DBPSK） 4、TPC04：编码模块输出时钟（56KHz/BPSK/DBPSK） 5、TPC05：错码指示（无加错时，该点为低电平。） 汉明译码模块实验电路工作原理描述如下： 1、输入信号选择开关：开关 KW01、KW01 用于选择输入信号和时钟是来自解调器信道或直接 来自汉明编码模块。当 KW01、KW01 设置在 1_2 位置（CH：左端），则输入信号来自信道； 开关 KW01、KW01 设置在 2_3 位置（LOOP：右端），则输入信号来自汉明编码模块。 2、汉明译码器：主要由串/并变换器、校正子生成器、3/8 译码器和纠错电路构成。该电路专门 由一个 CPLD（EPM7128）实现。 3、汉明译码使能开关：SW03 中 H_EN 与发端编码使能开关同步使用。 汉明译码模块各测试点定义： 1、TPC01：输入时钟（56KHz BPSK/DBPSK） 2、TPC02：输入数据（56Kbtps BPSK/DBPSK） 3、TPC03：检测错码指示 4、TPC04：输出时钟 5、TPC05：CVSD 数据输出 6、TPC06：同步数据输出 7、TPC07：m 序列输出 8、TPC08：异步数据输出

三 Q<≌启 启器 洲游

7 TPC02 编码器 汉明 系统定时 M 序列 发生器 ● 产生 错码 输出数据 CVSD 异步数据 同步数据 ADPCM 码 m 序列 开关 开关 M_SEL2 SWC01 E_MOD1 E_MOD2 M_SEL1 SWC01 图 3.4.4 汉明编码模块电路功能组成框图 UC01 开关 数据 开关 数据 出 输 时钟 开关 开关 SWC01 ADPCM H_EN KC01 TPC01 错码检测 TPC03 TPC05 输出时钟 TPC04 ● ● ● ● ● SWC01

鉴 ] ∽为启藩西器监 器跟→ 雌启斗 乏画燐

8 TPW01 译码器 汉明 系统定时 ● 图 3.4.5 汉明译码模块电路功能组成框图 UW01 开关 数据 出 输 时钟 K 开关 W03 H_EN KW02 TPW02 错码指示 输出时钟 TPW03 TPW04 ● ● ● 关 开 关 开 KW01 器 路 分 ADPCM 时序 TPW06 TPW05 CVSD ADPCM 同步数据 TPW07 m 序列 TPW08 异步数据 终端 信道 终端 信道 数据 ● ● LOOP CH LOOP CH ● ON OFF

实验仪器 1、JH5001通信原理综合实验系统 2、20MHz双踪示波器 3、JH9001型误码测试仪(或GZ9001型) 台台台台 4、频谱测量仪 三、实验目的 1、通过纠错编解码实验,加深对纠错编解码理论的理解 四、实验内容 准备工作: (1)首先通过菜单将调制方式设置为BPSK或 DBPSK方式;将汉明编码模块内工作方式选择 开关SwC01中,编码使能开关插入(HEN), ADPCM数据断开( ADPCM):将输入数 据选择开关KC01设置在m序列(DTM)位置;设置m序列方式为(00:MSEL2和 MSEL1拔下),此时m序列输出为1/0码 (2)将汉明译码模块内输入信号和时钟选择开关KW01、KW02设置在LOOP位置(右端), SWCO1 E MODO E MOD KOL H EN ADPCM DT SYS 卧: DT M M SEL2 M SELI 输入信号直接来自汉明编码模块;将译码器使能开关KWO3设置在工作位置0N(左端)。 编码规则验证 (1)用示波器同时观测编码输入信号TPC01波形和编码输出波形TPCO5,观测时以 TPCOI同 步,观测是否符合汉明编码规则(参见表34.1所示)。注意此时输入、输出数据速率不同, 输入数据速率为32Kbps,输出数据速率为56Kbp (2)设置m序列方式为(10:MSEL2插入、MSEL1拔下),此时m序列输出为11/00码(参 见表342所示)。用示波器同时观测编码输入信号TPC0Ⅰ波形和编码输出波形TPC05, 观测时以TPC01同步,观测是否符合汉明编码规则。 (3)设置其它m序列方式,重复上述测量步骤。 注:其它两种m序列周期因非4bit的倍数,观测时要仔细调整示波器才能观测 2.译码数据输出测量 (1)用示波器同时观测汉明编码模块的编码输入信号TPCOⅠ波形和汉明译码模块译码输岀 序列波形TPW07,观测时以TPC01同步。测量译码输出数据与发端信号是否保持一致。 (2)设置不同的m序列方式,重复上述实验,验证汉明编译码的正确性 问题与思考:当m序列产生输出0/码或00/11码或7位周期序列时(都是短周期性数据),观

9 · · · · · · · · KC01 DT_SYS DT_M AS CVSD 二、 实验仪器 1、JH5001 通信原理综合实验系统 一台 2、20MHz 双踪示波器 一台 3、JH9001 型误码测试仪（或 GZ9001 型） 一台 4、频谱测量仪 一台 三、 实验目的 1、通过纠错编解码实验，加深对纠错编解码理论的理解； 四、 实验内容 准备工作： （1）首先通过菜单将调制方式设置为 BPSK 或 DBPSK 方式；将汉明编码模块内工作方式选择 开关 SWC01 中，编码使能开关插入（H_EN），ADPCM 数据断开（ADPCM）；将输入数 据选择开关 KC01 设置在 m 序列（DT_M）位置；设置 m 序列方式为（00：M_SEL2 和 M_SEL1 拔下），此时 m 序列输出为 1/0 码。 （2）将汉明译码模块内输入信号和时钟选择开关 KW01、KW02 设置在 LOOP 位置（右端）， 输入信号直接来自汉明编码模块；将译码器使能开关 KW03 设置在工作位置 0N（左端）。 1. 编码规则验证 （1）用示波器同时观测编码输入信号 TPC01 波形和编码输出波形 TPC05，观测时以 TPC01 同 步，观测是否符合汉明编码规则（参见表 3.4.1 所示）。注意此时输入、输出数据速率不同， 输入数据速率为 32Kbps，输出数据速率为 56Kbps。 （2）设置 m 序列方式为（10：M_SEL2 插入、M_SEL1 拔下），此时 m 序列输出为 11/00 码（参 见表 3.4.2 所示）。用示波器同时观测编码输入信号 TPC01 波形和编码输出波形 TPC05， 观测时以 TPC01 同步，观测是否符合汉明编码规则。 （3）设置其它 m 序列方式，重复上述测量步骤。 注：其它两种 m 序列周期因非 4bit 的倍数，观测时要仔细调整示波器才能观测。 2. 译码数据输出测量 （1）用示波器同时观测汉明编码模块的编码输入信号 TPC01 波形和汉明译码模块译码输出 m 序列波形 TPW07，观测时以 TPC01 同步。测量译码输出数据与发端信号是否保持一致。 （2）设置不同的 m 序列方式，重复上述实验，验证汉明编译码的正确性。 问题与思考：当 m 序列产生输出 0/1 码或 00/11 码或 7 位周期序列时（都是短周期性数据），观 · · · · · · · · · · · · · · · · E_MOD0 E_MOD1 H_EN ADPCM M_SEL2 M_SEL1 SWC01

测译码接收和发送数据信号一致,此时保持跳线开关和设置不变,将通信原理实验箱关机后在开机。 此时有可能发生译码输出数据与编码数据有不一致。如不一致,可将 SWCl中的 ADPCM开关插 入再断开(加入一段随机数据),此时译码输出数据与编码数据又一致,这是为什么(参照表34.1 进行分析)?在实际通信中如何解决这问题? 3.译码同步过程观测 将汉明编码模块工作方式选择开关SwC0l的编码使能开关插入(HEN; ADPCM数据有效 ( ADPCM)。将汉明译码模块的输入信号和时钟选择开关KW0Ⅰ、KW02设置在23位置(右端), 输入信号直接来自汉明编码模块。 (1)用示波器检测汉明译码模块内错码检测指示输出波形TPW03。将汉明编码模块内工作方 式选择开关SwC01的编码使能开关断开(HEN),使汉明译码模块失步,观测TPC03变 化:将编码使能开关插入(HEN),观测汉明译码的同步过程,记录测量结果 )将 ADPCM数据换为m序列,重复上述测量步骤,分析测量结果 4.发端加错信号观测 将汉明编码模块工作方式选择开关SwC0I的编码使能开关插入(HEN); ADPCM数据有效 ( ADPCM)。将汉明译码模块内输入信号和时钟选择开关KW0l、KW02设置在LOOP位置(右端) 输入信号直接来自汉明编码模块:将译码器使能开关Kw03设置在工作位置0N(左端)。 (1)用示波器同时测量汉明编码模块内加错指示TPC03和汉明译码模块内错码检测指示输出 波形TPW03的波形,观测时以TPC03同步。此时无错码 (2)将汉明编码模块工作方式选择开关SwC0l的加错开关EMOD0接入,产生1位错码,定 性观测明译码能否检测岀错码,记录结果。 3)将汉明编码模块工作方式选择开关Swc0l的加错开关 E MODI接入,产生2位错码,定 性观测明译码能否检测出错码,记录结果 (4)将汉明编码模块工作方式选择开关SWCI的加错开关 E MODO、 E MODI都插入,产生 更多错码,定性观测明译码能否检测出错码和失步,记录结果 五、实验报告 1、画出输入为01码、00/11码和l110010m序列码的汉明编码输出波形 2、分析整理测试数据。 3、分析讨论汉明编码系统的性能及应用的局限性

10 测译码接收和发送数据信号一致，此时保持跳线开关和设置不变，将通信原理实验箱关机后在开机。 此时有可能发生译码输出数据与编码数据有不一致。如不一致，可将 SWC01 中的 ADPCM 开关插 入再断开（加入一段随机数据），此时译码输出数据与编码数据又一致，这是为什么（参照表 3.4.1 进行分析）？在实际通信中如何解决这问题？ 3. 译码同步过程观测 将汉明编码模块工作方式选择开关 SWC01 的编码使能开关插入（H_EN）；ADPCM 数据有效 （ADPCM）。将汉明译码模块的输入信号和时钟选择开关 KW01、KW02 设置在 2_3 位置（右端）， 输入信号直接来自汉明编码模块。 （1）用示波器检测汉明译码模块内错码检测指示输出波形 TPW03。将汉明编码模块内工作方 式选择开关 SWC01 的编码使能开关断开（H_EN），使汉明译码模块失步，观测 TPC03 变 化；将编码使能开关插入（H_EN），观测汉明译码的同步过程，记录测量结果。 （2）将 ADPCM 数据换为 m 序列，重复上述测量步骤，分析测量结果。 4. 发端加错信号观测 将汉明编码模块工作方式选择开关 SWC01 的编码使能开关插入（H_EN）；ADPCM 数据有效 （ADPCM）。将汉明译码模块内输入信号和时钟选择开关 KW01、KW02 设置在 LOOP 位置（右端）， 输入信号直接来自汉明编码模块；将译码器使能开关 KW03 设置在工作位置 0N（左端）。 （1）用示波器同时测量汉明编码模块内加错指示 TPC03 和汉明译码模块内错码检测指示输出 波形 TPW03 的波形，观测时以 TPC03 同步。此时无错码。 （2）将汉明编码模块工作方式选择开关 SWC01 的加错开关 E_MOD0 接入，产生 1 位错码，定 性观测明译码能否检测出错码，记录结果。 （3）将汉明编码模块工作方式选择开关 SWC01 的加错开关 E_MOD1 接入，产生 2 位错码，定 性观测明译码能否检测出错码，记录结果。 （4）将汉明编码模块工作方式选择开关 SWC01 的加错开关 E_MOD0、E_MOD1 都插入，产生 更多错码，定性观测明译码能否检测出错码和失步，记录结果。 五、实验报告 1、画出输入为 0/1 码、00/11 码和 1110010m 序列码的汉明编码输出波形。 2、分析整理测试数据。 3、分析讨论汉明编码系统的性能及应用的局限性