《材料显微结构分析》课程教学课件（PPT讲稿）第二章 偏光显微镜研究法 2.5 透明晶体光学性质系统测定

第五节透明矿物的系统鉴定

第五节 透明矿物的系统鉴定

、透明矿物的晶体光学分类 1、高级晶族：均质体。 2、中级晶族、低级晶族：非均质体。 非均质体可进一步分为： 一轴晶：（什）、() 二轴晶：什)、()

一、透明矿物的晶体光学分类 1、高级晶族：均质体。 2、中级晶族、低级晶族： 非均质体。 非均质体可进一步分为： 一轴晶: (+)、(-) 二轴晶: (+)、(-)

二、透明矿物条统鉴定的内容 一)单偏光镜下()： 1、晶形：需要综合各种切面进行归纳； 2、解理：不同方向的切面具有不同的解 理形态，需要进行综合归纳。 1)无解理； 2)有解理： 完善程度：极完善、完姜、不完善。 解理组数：一组、二组及夫角

二、透明矿物系统鉴定的内容 (一) 单偏光镜下(-N)： 1、晶形：需要综合各种切面进行归纳； 2、解理：不同方向的切面具有不同的解 理形态，需要进行综合归纳。 1) 无解理； 2) 有解理： 完善程度：极完善、完善、不完善。 解理组数：一组、二组及夹角

3、突起及闪突起：主要根据矿物颗粒的边缘、 糙面及贝克线移动方向来判断。 正突起：正极高、正高、正中、正低； 负突起：负高、负低； 4、颜色及多色性： 无色矿物：无多色性； 有色矿物：有多色性，无多色性

3、突起及闪突起：主要根据矿物颗粒的边缘、 糙面及贝克线移动方向来判断。 正突起：正极高、正高、正中、正低； 负突起：负高、负低； 4、颜色及多色性： 无色矿物：无多色性； 有色矿物：有多色性，无多色性

(二)正交偏光镜下(+N): 干涉色级序、双晶类型、延性待号、双折 射率大小、消光类型及消光角。 (三)维光镜下(CL): 切面方向、轴性、光性及2V大小

(二) 正交偏光镜下(+N)： 干涉色级序、双晶类型、延性符号、双折 射率大小、消光类型及消光角。 (三) 锥光镜下(C.L.)： 切面方向、轴性、光性及2V大小

三、切面类型及定向切面的选择 ★需要在定向切面上进行测定的内容： 1、多色性公式、吸收性公式、双折射率及 消光角，需要在平行光轴或光轴面的切面上测 定。 2、光性正负需要在除平行光轴或光轴面 的切面外的各种切面上进行。 3、2V大小需要在垂直光轴的切面上测定

三、切面类型及定向切面的选择 ★需要在定向切面上进行测定的内容： 1、多色性公式、吸收性公式、双折射率及 消光角，需要在平行光轴或光轴面的切面上测 定。 2、光性正负需要在除平行光轴或光轴面 的切面外的各种切面上进行。 3、2V大小需要在垂直光轴的切面上测定

一轴晶矿物 切面 -N +N C.L. No 无多色性 ⊥A 无闪突起 全消光 旋转360 度，不变 IA 多色性、四次消光 闪突起 干涉色级 最明显 序最高 逸出角 12-15度 四次消光 HA

一轴晶矿物

切面 N +N C.L. 无多色性 ⊥OA 无闪突起 全消光 多色性 IlAp 干涉色级 闪突起 序最高 最明显 逸出角 (+) (- 小于10度 ⊥Bxa 二轴晶矿物 ⊕ +)) ⊥BxO 逸出角 (+) 10-35度 ⊥Ap的 斜交 切面 任 文面

二轴晶矿物

四、系统鉴定程序 (1)区分均质体 和非均质体 均质体：)在单偏光下观察晶 形、解理、突起等级、颜色、 均质体：各个方向 等。 切面全消光，无干 涉图。 非均质体：仅垂直光 非均质体：2)在单偏光下观察晶形、 轴切面全消光，有干 解理、突起等级、闪突起、颜色、 涉图。 多色性、测定解理夹角等

四、系统鉴定程序 (1) 区分均质体 和非均质体 均质体：各个方向 切面全消光，无干 涉图。 非均质体：仅垂直光 轴切面全消光，有干 涉图。 均质体：⑵在单偏光下观察晶 形、解理、突起等级、颜色、 等。 非均质体：⑵在单偏光下观察晶形、 解理、突起等级、闪突起、颜色、 多色性、测定解理夹角等

非均质体： 们)在正交偏光镜下观察消光类型、双晶、延性符 号及干涉色级序等。 ()选择一个垂直光轴的切面，在雏光镜下确定轴 性测定光性符号。如为有色矿物，在单偏光镜下观 察No或Nm的颜色。 (⑤选择一个平行光轴或平行光轴面的切面，在正 交偏光镜下测定最高干涉色级序、最大双折率和消 光角的大小。如为有色矿物，观察No、Ne或Ng、Np 等颜色。写出多色性和吸收性公式

非均质体： ⑶ 在正交偏光镜下观察消光类型、双晶、延性符 号及干涉色级序等。 ⑷ 选择一个垂直光轴的切面，在锥光镜下确定轴 性测定光性符号。如为有色矿物，在单偏光镜下观 察No或Nm的颜色。 ⑸ 选择一个平行光轴或平行光轴面的切面，在正 交偏光镜下测定最高干涉色级序、最大双折率和消 光角的大小。如为有色矿物，观察No、Ne或Ng、Np 等颜色。写出多色性和吸收性公式