《材料测试技术及方法》课程教学资源（讲稿）1-材料现代分析方法_1-上课课件_08-2~09 TEM

ACS Publications 9 High quality High impact. a .MB in H2O b SiO2-MB -Si02 400 500600700 800 Wavelength(nm) d e Nitrogen map Silicon map Characterizations of Si02-MB NPs.(a)Typical TEM image of the Si02-MB NPs.(b) Absorption spectra taken from pure MB,Si02-MB NPs,and pure Si02 NPs in aqueous solutions.(c)Filtered bright-field TEM image of single NP and the corresponding EELS maps of (d)nitrogen and (e)silicon.The scale bar is 20 nm. Published in:Silu Zhang:Zhiqin Chu:Chun Yin:Chunyuan Zhang:Ge Lin;Quan Li;/.Am.Chem.Soc.2013,135,5709-5716. D0I:10.1021/ia3123015 Copyright2013 American Chemical Society

Characterizations of SiO2-MB NPs. (a) Typical TEM image of the SiO2-MB NPs. (b) Absorption spectra taken from pure MB, SiO2-MB NPs, and pure SiO2 NPs in aqueous solutions. (c) Filtered bright-field TEM image of single NP and the corresponding EELS maps of (d) nitrogen and (e) silicon. The scale bar is 20 nm. Published in: Silu Zhang; Zhiqin Chu; Chun Yin; Chunyuan Zhang; Ge Lin; Quan Li; J. Am. Chem. Soc. 2013, 135, 5709-5716. DOI: 10.1021/ja3123015 Copyright © 2013 American Chemical Society

ACS Publications High quality.High impact. 100 60 is pope IS 40 20 20 -Deionized Water .-pH7.4 PBS .-Simulated body fluid 24601246 680 e Time (days) Time(days) Time(days) Carrier decomposition of Si02-MB NPs.Typical TEM images of the Si02-MB NPs after being immersed in deionized water for (a)1,(b)4,(c)9,and (d)14 days,respectively.The scale bar is 100 nm.ICP-OES result of degraded silicon amount as a function of immersion duration in (e)deionized water at room temperature,(f)PBS (pH 7.4),and (g)simulated body fluid (with 50%FBS)at 37C. Published in:Silu Zhang:Zhiqin Chu:Chun Yin:Chunyuan Zhang:Ge Lin:Quan Li:Am.Chem.Soc.2013,135,5709-5716. D0I:10.1021/ja3123015 Copyright o 2013 American Chemical Society

Carrier decomposition of SiO2-MB NPs. Typical TEM images of the SiO2-MB NPs after being immersed in deionized water for (a) 1, (b) 4, (c) 9, and (d) 14 days, respectively. The scale bar is 100 nm. ICP-OES result of degraded silicon amount as a function of immersion duration in (e) deionized water at room temperature, (f) PBS (pH 7.4), and (g) simulated body fluid (with 50% FBS) at 37 °C. Published in: Silu Zhang; Zhiqin Chu; Chun Yin; Chunyuan Zhang; Ge Lin; Quan Li; J. Am. Chem. Soc. 2013, 135, 5709-5716. DOI: 10.1021/ja3123015 Copyright © 2013 American Chemical Society

电子显微镜 光学显微镜 媒体 电灯 故出湖 电子枪 电子束加速 光线 困 电子束 用高压电源 玻璃 透镜 聚光镜 电子透镜一 置于玻璃 样品 置于火棉 透镜电 载片上 胶膜上 (空气中) (真空中) 玻璃透镜 物镜 电子透镜 透镜电源 分辨率： 空气中 通贸 真空中 n人眼：0.2 玻璃透镜投彤镜 电子透镜 (目镜) mm 直接观 电子束打在荧光屏 透镜电源 上变换成肉眼 n 光学显微镜： 可见的光学像 照相底片 照相底片 直空泵 0.2um (空气中) 记录灵 (真空中) n电子显微镜： 图3-1光学显微镜与透射电镜结构比较示意图 0.1nm 3

3 分辨率： n 人眼：0.2 mm n 光学显微镜： 0.2 μm n 电子显微镜： 0.1 nm

第四章电子显微分析之一 透射电子显微分析 第一节电子与固体作用产生的信号p43-46 第二节工作原理及构造*p136p142 第三节样品制备p145148 第四节基本成像操作及相衬度*p149151 第五节典型应用*及其他功能简介p1551614

4 第四章 电子显微分析 之一 透射电子显微分析 第一节 电子与固体作用产生的信号p43-46 第二节 工作原理及构造*p136~p142 第三节 样品制备p145~148 第四节 基本成像操作及相衬度*p149~151 第五节典型应用*及其他功能简介p155~161

X射线衍射仪 电子探针仪 扫描电镜 X射线 次电子 韧致辐射 入射电子 背散射电子 阴极荧光 吸收电子 俄歇电子 试样 透射电子 衍射电子 俄歇电镜 透射电子显微镜 电子衍射仪

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电子显微分析方法的种类 m 透射电子显微镜(TEM) m Transmission electron microscopy m 扫描电子显微镜(SEM) m Scanning electron microscope m 电子探针X射线显微分析仪(EPA或 EPMA) m 电子激发俄歇电子能谱(XAES或AES)

6 电子显微分析方法的种类 m 透射电子显微镜(TEM) m Transmission electron microscopy m 扫描电子显微镜(SEM) m Scanning electron microscope m 电子探针X射线显微分析仪 (EPA或 EPMA) m 电子激发俄歇电子能谱(XAES或AES)

透射电子显微镜(TE)的形式 高分辨电镜(HRTEM) 透射扫描电镜（STEM) 分析型电镜（AEM)等等。 n入射电子束（照明束)也有两种主要形式： 平行束：透射电镜成像及衍射 会聚束：扫描透射电镜成像、微分析及微 衍射

7 高分辨电镜（HRTEM） 透射扫描电镜（STEM） 分析型电镜（AEM）等等。 n 入射电子束（照明束）也有两种主要形式： 平行束：透射电镜成像及衍射 会聚束：扫描透射电镜成像、微分析及微 衍射。 透射电子显微镜(TEM) 的形式

◆ Basic features of A Modern TEM 电子枪 82 试样架 EDS探测器 镜简 扫描像观察装置 观察室 操作面板 照相室 扫描像照相机 EELS探测器 8

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制面示意图 1一高压电规 2一电子枪 2一阳极 照明系统 ☒区 4一束流偏转线图 ☒☒ 5谈聚光镜 学材料科学 X六Y8一电题销转线圈 9一物镜光阀 10 10一物镜消像收线圈 1一物镜 成像系镜 12一选区光阑 恩 13一第一中间镜 14一第二中间镜 153 ☒☒ 15一第三中问镜 16一高分辨行射室 17一光学总微镜 南 18一观察窗 19荧光异 20—一发片盒 21一收片盒 22一照相室 22

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电子枪室 15t/s SIP 电子枪 加速管 加速管 605 SIP 中间室 20/s SIP 阀门1 侧角仪 样品室 样品台→ 物镜光阑 150/s SIP 物镜 选区光阑+口 中间镜 投影镜 阀门2 双目光学显微镜→怎 观察室 观察窗口 小荧光屏 大荧光屏 照相室 照相室 420/5 DP (a) (b) 图9.4JEM-2010型透射电子显微镜镜筒结构剖面图()与真空系统配置图(b) 10

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