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《材料测试技术及方法》课程教学资源(讲稿)1-材料现代分析方法_1-上课课件_05 X射线衍射方法

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资源类别:文库
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《材料测试技术及方法》课程教学资源(讲稿)1-材料现代分析方法_1-上课课件_05 X射线衍射方法
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第二章衍射分析(之二)X射线衍射方法第一节多晶体衍射方法第二节单晶体衍射方法

1 第二章 衍射分析 (之二) X射线衍射方法 第一节 多晶体衍射方法 第二节 单晶体衍射方法

X射线分析方法德拜法(德拜-谢乐法)*照相法聚焦法#针孔法多晶体衍射方法*衍射仪法劳埃(Laue)法#周转晶体法单晶体衍射方法四圆衍射仪

2                                                 德拜法(德拜-谢乐法)*                                  照相法    聚焦法# 多晶体衍射方法                      针孔法                                  衍射仪法 *                                     劳埃(Laue)法# 单晶体衍射方法       周转晶体法                                    四圆衍射仪 X射线分析方法

第一节多晶体衍射方法(粉末)照相法(粉末)照相法以光源(X射线管)发出的单色光(特征X射线,一般为K.射线)照射(粉末)多晶体(圆柱形)样品,用底片记录产生的衍射线。用其轴线与样品轴线重合的圆柱形底片记录者称为德XK拜(Debye)法:用平板底片记录者称为针孔法K较早的X射线衍射分析多采用照相法,而德拜法是常K用的照相法,一般称照相法即指德拜法,德拜法照相装置称德拜相机

3 第一节 多晶体衍射方法 一、(粉末)照相法 (粉末)照相法以光源(X射线管)发出的单色光(特 征X射线,一般为K￾射线)照射(粉末)多晶体(圆 柱形)样品,用底片记录产生的衍射线。 ж 用其轴线与样品轴线重合的圆柱形底片记录者称为德 拜(Debye)法; ж 用平板底片记录者称为针孔法。 ж 较早的X射线衍射分析多采用照相法,而德拜法是常 用的照相法,一般称照相法即指德拜法,德拜法照相 装置称德拜相机

1、成像原理与衍射花样特征样品中(HKL)晶面发生衍射,其倒易点落于厄瓦尔德球上,而样品内同名(HKL)面方向各异,其倒易点与厄瓦尔德球相交为圆环状,因而同名(HKL)面衍射线将构成以入射线为轴,20为半雉角的圆维体-(HKL)衍射圆维不固(HKL)晶面衍射角20不同,但各衍射圆维共顶,而等同品面衍射圆维则重受,(20)相同

4 1、成像原理与衍射花样特征 • 样品中(HKL)晶面发生衍射,其倒易点 落于厄瓦尔德球上,而样品内同名 (HKL)面方向各异,其倒易点与厄瓦尔 德球相交为圆环状,因而同名(HKL)面 衍射线将构成以入射线为轴,2θ为半锥角 的圆锥体-(HKL)衍射圆锥。 • 不同(HKL)晶面衍射角2θ不同,但各衍 射圆锥共顶,而等同晶面衍射圆锥则重叠, ( 2θ )相同

(HKL)晶面X射线在(HKL)晶体表面的衍射

5 a b c ￾ ￾ X射线 在(HKL)晶体表面的衍射 (HKL)晶面

(HKL)晶面同名

6 ￾ ￾ ￾ ￾ 同名(HKL)晶面

样品入射线线束

7 入射线线束 样品

照片样品入射射线束

8 L 入射射线束          样品      照片

照相法S样品入射线片底衍射仪法

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Origin of Powder Pattern3000LaBs,MoK.,CCDdetector250002000Ewald'ssphere11500Incidentbeam1000o50002411113300251020251530004022222113Bragg angle,2(deg.)

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